Journées thématiques du Réseau Semi-conducteurs IN2P3-IRFU. Méthodes de test orientées simulation

Name: Journées thématiques du Réseau Semi-conducteurs IN2P3-IRFU. Méthodes de test orientées simulation
Start: 2021-06-10T13:00:00+02:00
End: 2021-06-11T12:05:00+02:00
Location: IP2I Lyon

10 juin 2021, 13:00 → 11 juin 2021, 12:05 Europe/Paris

Amphithéâtre du bâtiment Paul Dirac (IP2I Lyon)

Amphithéâtre du bâtiment Paul Dirac

IP2I Lyon

Domaine scientifique de la Doua Bâtiment Paul Dirac 4, Rue Enrico Fermi 69622 Villeurbanne Cedex

Description

Dernière minute !! Les journées thématiques seront organisées en format 100% visioconférence.

Le réseau "R & D instrumentation" dédié aux détecteurs semi-conducteurs (IN2P3-IRFU) créé en 2012 dans le but de promouvoir les échanges entre les différents laboratoires actifs dans le domaine, organise deux demi-journées les 10 et 11 juin 2021 à l'IP2I Lyon (Institut de Physique des 2 Infinis de Lyon) sur le thème de méthodes de test des semi-conducteurs orientées simulation.

Ces journées s'adressent aux utilisateurs de différents détecteurs semi-conducteurs (instrumentalistes) désireux de découvrir et comprendre les dernières technologies associées, leurs performances et leurs limites.

Il sera demandé aux intervenants d'adapter le niveau de leur présentation à ce public. Les présentations seront de préférence en Français.

Les visites sur place et la session poster se feront par visioconférence en vue de la situation sanitaire.

Pour réserver une place poster, contactez-nous.

Mokrane Dahoumane, Ana Torrento

m.dahoumane@ipnl.in2p3.fr

ana.torrento@ijclab.in2p3.fr

Participants

60 Voir la liste complète

jeu. 10 juin
- jeu. 10 juin
- ven. 11 juin
- 13:00
  
  Accueil
- 1
  
  Introduction
  
  Orateur: M. Jacques Marteau (directeur adjoint IP2I)
- 2
  
  Characterization of radiation induced defects in silicon devices
  
  Orateur: Michael Moll (CERN) (CERN)
  
  Lyon IP2I - Defect-Characterization-M-MOLL-10-06-2021.pdf
- 3
  
  Transient Current Technique measurements as input to simulations tools
  
  Orateur: Gregor Kramberger (JSI Slovenia) (IJS)
  
  GKramberger-TCT.pdf
- 4
  
  Radiation damage effects: characterization techniques and numerical modelling
  
  Orateur: Arianna Morozzi (IOM-CNR Perugia) (University of Perugia and INFN)
  
  WorkshopSemicondIN2P3_Morozzi_fin.pdf
- 14:45
  
  Pause
- Visites par groupes
  - 5
    
    Visite virtuelle : Présentation des moyens de caractérisation de semi-conducteurs à l'INL : du matériau au dispositif
    
    Orateurs: Francis Calmon (INL) (INL), Nicolas Chauvin (INL) (INL), Patrick Pittet (INL) (INL)
    
    INL 2021 - journée réseau SC compile.mp4
  - 6
    
    Visite virtuelle : Laboratoire des Matériaux Avancés (LMA)
    
    Orateur: Laurent Pinard (LMA - IP2I) (LMA - IP2I)
    
    2017_01_27_Les meilleurs miroirs du monde sont français.mp4
  - 7
    
    Visite virtuelle : Centre de Calcul de l'IN2P3
    
    Orateur: Frédéric Suter (CC-IN2P3)
    
    Présentation_CCA_SM.pptx
  - 8
    
    Visite virtuelle : Présentation du labo Cryogénique et problématiques générales de R&D
    
    Orateur: Alexandre Juillard (IP2I) (IP2I Lyon)
    
    LaboCryoIP2I_10Juin2021.pdf
- 16:00
  
  Pause
- 9
  
  Optimisation des détecteurs des expériences EDELWEISS et Ricochet à l’aide de Comsol
  
  Orateur: Jules Colas (IP2I) (CNRS/IN2P3/IP2I)
  
  ComsolSimulationforRicochet.pdf
- 10
  
  Le modelisation des Detecteur de grand volume de Germanium Hyper Pure dans la communité de spectroscopie gamma haute resolution (AGATA)
  
  Orateur: Joa Ljungvall (IJCLab) (CSNSM/IN2P3/CNRS)
  
  JourneeSemiConducteursLyon2021JL.pdf
- 11
  
  Allpix^2 : Un logiciel générique de simulation Monte-Carlo des détecteur pixels semi-conducteurs
  
  Orateur: Mathieu Benoit (BNL) (CERN)
  
  MB_allpix2.pdf
  
  MB_allpix2.pptx
ven. 11 juin
- jeu. 10 juin
- ven. 11 juin
- 08:30
  
  Accueil
- 12
  
  Utilisation des faisceaux d'ion pour la caractérisation de détecteurs
  
  Orateur: Stéphanie Sorieul (CENBG) (CENBG)
  
  ReseauSemiconducteur_ppt_St-Sorieul.pptx
- 13
  
  Nouvelles méthodes d'analyse des détecteur silicium pour étudier les effets des dommages d’irradiation sur les performances des détecteurs de pixels (SIMS et TLM)
  
  Orateur: Tasneem Saleem (SOLEIL) (SOLEIL Synchrotron)
  
  20210611_TasneemSALEEM.pdf
- 14
  
  ECORCE : un outil TCAD pour la modélisation des composants sous radiation
  
  Orateur: Alain Michez (Univ. Montpellier) (Université de Montpellier)
  
  Presentation_ECORCE_IN2P3_21_06_11.pptx
- 10:15
  
  Pause
- 15
  
  Garfield++
  
  Orateur: Heinrich Schindler (CERN) (CERN)
  
  Slides_HSchindler.pdf
- 16
  
  KDetSim
  
  Orateur: Gregor Kramberger (JSI Slovenia) (IJS)
  
  IN2P3-IRFU-KDetSim.pdf
- 17
  
  Weigthfield2: a friendly simulator for Silicon detectors
  
  Orateur: Valentina Sola (INFN Torino) (INFN Torino)
  
  vs_WF2_JTRSc_2021.pdf
- Bilan des journées

Choisissez le fuseau horaire

Journées thématiques du Réseau Semi-conducteurs IN2P3-IRFU. Méthodes de test orientées simulation

Amphithéâtre du bâtiment Paul Dirac

IP2I Lyon

Dernière minute !! Les journées thématiques seront organisées en format 100% visioconférence.