Journée thématique du Réseau Semi-conducteurs - Fabrication de détecteurs semi-conducteurs

Name: Journée thématique du Réseau Semi-conducteurs - Fabrication de détecteurs semi-conducteurs
Start: 2017-06-14T09:30:00+02:00
End: 2017-06-14T17:00:00+02:00
Location: LPNHE

14 juin 2017

LPNHE

Fuseau horaire Europe/Paris

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3D Silicon Coincidence Avalanche Detector (3D-SiCAD): preliminary results on charged particle detection

14 juin 2017, 12:30

15m

Amphi G. Charpak (LPNHE)

Amphi G. Charpak

LPNHE

Patio 22‐33 ‐ Rez‐de‐chaussée (RC) ‐ Niveau Saint Bernard (SB) ‐ Porte 02 4 place Jussieu ‐ 75005 Paris

Déjeuner - Posters

M. Francis Calmon (INL - Institut des Nanotechnologies de Lyon (UMR CNRS 5270) Site INSA-Lyon)

Poster

TRSC2017_Poster_FCalmon3DSiCAD.pdf

Journée thématique du Réseau Semi-conducteurs - Fabrication de détecteurs semi-conducteurs

3D Silicon Coincidence Avalanche Detector (3D-SiCAD): preliminary results on charged particle detection

Amphi G. Charpak

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