Le réseau "R & D instrumentation" dédié aux détecteurs semi-conducteurs (IN2P3-IRFU) mis en place en 2012 dans le but de promouvoir les échanges entre les différents laboratoires actifs dans le domaine, organise le 16 Juin 2016 une journée sur le thème des effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs. Cette journée s'adresse aux utilisateurs de différents détecteurs semi-conducteurs désireux d'avoir une vue des problèmes rencontrés dans des environnements radiatifs de notre discipline tels que l'espace ou les accélérateurs de particules. Il a été demandé aux intervenants d'adapter le niveau de leur présentation à un public avisé (instrumentaliste) mais non spécialiste.
Commence le
Se termine le
Europe/Paris
LPNHE
Amphi G.Charpack
Patio 22‐33 ‐ Rez‐de‐chaussée (RC) ‐ Niveau Saint Bernard (SB) ‐ Porte 02 4 place Jussieu ‐ 75005 Paris
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