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Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs
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Europe/Paris
Amphi G.Charpack (LPNHE)
Amphi G.Charpack
LPNHE
Patio 22‐33 ‐ Rez‐de‐chaussée (RC) ‐ Niveau Saint Bernard (SB) ‐ Porte 02
4 place Jussieu ‐ 75005 Paris
Description
Le réseau "R & D instrumentation" dédié aux détecteurs semi-conducteurs (IN2P3-IRFU) mis en place en 2012 dans le but de promouvoir les échanges entre les différents laboratoires actifs dans le domaine, organise le 16 Juin 2016 une journée sur le thème des effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs. Cette journée s'adresse aux utilisateurs de différents détecteurs semi-conducteurs désireux d'avoir une vue des problèmes rencontrés dans des environnements radiatifs de notre discipline tels que l'espace ou les accélérateurs de particules. Il a été demandé aux intervenants d'adapter le niveau de leur présentation à un public avisé (instrumentaliste) mais non spécialiste.
Participants
Abdou Chbihi
alain goetschy
Aline Meuris
Amr Habib
Ana Sofia Torrento Coello
Arnaud Chapon
Arnaud Claret
Audrey Ducourthial
Augustin Guyonnet
Aymeric SAUVAGEON
Bernard Genolini
Claire Juramy
Cyrille Rosset
DALY François
Damien PAILOT
Daniel PEYRE
Duc Dat HUYNH
Eric Delagnes
Fabien Jeanneau
Fabrice Voisin
Jean-Claude Clemens
Koryo Okumura
Laura PACHECO RODRIGUEZ
Laurence LAVERGNE
Laurent Gallin-Martel
Le Neindre Nicolas
LE VEN Valérie
Mahfoud Yamouni
Marian PARLOG
Marlon Barbero
Mathieu Benoit
Maxime HENRI
Michal Pomorski
Michel Piat
NAVICK Xavier
Nicolas Fourches
Nourredine HAMMOUDI
Olivier Limousin
philippe abbon
Rémi Chipaux
SALIMA MOUZALI
stephane colonges
Stéphane Schanne
Thomas Zerguerras
