Journées thématiques du Réseau Semi-conducteurs IN2P3-IRFU. Méthodes de test orientées simulation

Nouvelles méthodes d'analyse des détecteur silicium pour étudier les effets des dommages d’irradiation sur les performances des détecteurs de pixels (SIMS et TLM)

11 juin 2021, 09:25

25m

Amphithéâtre du bâtiment Paul Dirac (IP2I Lyon)

Orateur

Tasneem Saleem (SOLEIL) (SOLEIL Synchrotron)

Documents de présentation

20210611_TasneemSALEEM.pdf