Journée thématique du Réseau Semi-conducteurs - Fabrication de détecteurs semi-conducteurs

Name: Journée thématique du Réseau Semi-conducteurs - Fabrication de détecteurs semi-conducteurs
Start: 2017-06-14T09:30:00+02:00
End: 2017-06-14T17:00:00+02:00
Location: LPNHE

14 juin 2017

LPNHE

Fuseau horaire Europe/Paris

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Diodes à avalanche pour l’imagerie 3D à grande distance

14 juin 2017, 10:35

30m

Amphi G. Charpak (LPNHE)

Amphi G. Charpak

LPNHE

Patio 22‐33 ‐ Rez‐de‐chaussée (RC) ‐ Niveau Saint Bernard (SB) ‐ Porte 02 4 place Jussieu ‐ 75005 Paris

Session détecteurs silicium

M. Norbert Moussy (CEA-LETI)

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Diodes à avalanche pour l’imagerie 3D à grande distance

Amphi G. Charpak

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