Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs

Name: Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs
Start: 2016-06-16T10:00:00+02:00
End: 2016-06-16T16:30:00+02:00
Location: LPNHE

16 juin 2016

LPNHE

Fuseau horaire Europe/Paris

Accueil
Ordre du jour
Inscription
Liste des participants

Dommage des ions lourds sur détecteurs Silicium

16 juin 2016, 14:00

30m

Amphi G.Charpack (LPNHE)

Amphi G.Charpack

LPNHE

Patio 22‐33 ‐ Rez‐de‐chaussée (RC) ‐ Niveau Saint Bernard (SB) ‐ Porte 02 4 place Jussieu ‐ 75005 Paris

M. Nicolas Le Neindre (LPC)

Transparents

Journée_Thématique_LPNHE_2016.pptx

Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs

Dommage des ions lourds sur détecteurs Silicium

Amphi G.Charpack

LPNHE

Orateur

Documents de présentation

Choisissez le fuseau horaire

Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs

Orateur

Documents de présentation