Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs

Name: Journée Thématique du réseau R&D semi-conducteurs - Effets des irradiations dans les détecteurs semi-conducteurs
Start: 2016-06-16T10:00:00+02:00
End: 2016-06-16T16:30:00+02:00
Location: LPNHE

16 juin 2016

LPNHE

Fuseau horaire Europe/Paris

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Ouvert 1 avr. 2016

Fermé 3 juin 2016

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